觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗箱應(yīng)用原理

觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗箱應(yīng)用原理

產(chǎn)品簡介：

 本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗，也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品標準：

《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N：溫度變化試驗方法》GB2423.22-93 

《溫度沖擊試驗》GJB 150.5-86 

《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87 

《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008

《低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10589-2006

《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10592-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A: 低溫》GBT 2423.1-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細節(jié)及優(yōu)惠價格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進行定制